Nová mikroskopická optika pre infračervenú kameru Opris Xi 400 umožňuje spoľahlivé meranie teploty na malých objektoch od 240 µm. V kombinácii s vhodným stojanom to umožňuje profesionálne meranie dosiek plošných spojov a komponentov v elektronickom priemysle. Meracia vzdialenosť medzi kamerou a objektom je variabilná medzi 90 a 110 mm. Zabudované motorické zaostrovanie umožňuje jednoduché zaostrovanie fotoaparátu pomocou dodávaného softvéru PIX Connect.

Dôležité špecifikácie

Analýza najmenších komponentov až do 240 µm
Jednoduchá manipulácia vďaka motorickému zaostrovaniu
Nahrávanie rádiometrických videí
Optické rozlíšenie: 382x288 px
Bezplatný softvér.

Oblasti použitia optiky mikroskopu Opris Xi 400

Dosky plošných spojov sú základnou súčasťou elektronických zariadení. Stále sa zmenšujú a zároveň musia byť výkonnejšie. Teploty zložených dosiek plošných spojov možno jednoducho merať mikroskopickou optikou termokamery Opris Xi 400, čím sa rýchlo identifikujú prehriate oblasti a predíde sa možným poruchám. Príčiny nadmerných teplôt môžu byť rôzne: chybné komponenty, nesprávne dimenzované obvody alebo zle spájkované kĺbov.